Микроскоп отсчетный МОМ предназначен для измерения отпечатка (лунки), образуемой на поверхности различных металлов при определении твердости по методу Бринелля, а также для оперативного контроля крупногабаритных деталей.
Увеличение | 20х крат |
Цена давления | 0,01 мм |
Увеличение обьектива | 2х |
Увеличение окуляра | 20х |
Фокусное расстояние | 30 мм |
Наличие подсветки | нет |
ДОСТАВКА
Вы можете выбрать любой наиболее удобный способ из перечисленных ниже:
Доставка до терминала ТК «Деловые линии» осуществляется нами бесплатно.
ОПЛАТА
Мы принимаем оплату:
Цены на поставляемые нами товар всегда ниже, чем у наших конкурентов.
Условия гарантийного обслуживания
Гарантия не распространяется на ущерб, причиненный другому оборудованию, работающему вместе с данным изделием.